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對企業(yè)生產(chǎn)的產(chǎn)品質(zhì)量性能及安全性能都有一定的要求及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)。電工電子產(chǎn)品需要做環(huán)境耐久性測試，電工電子產(chǎn)品生產(chǎn)企業(yè)需要選購相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)箱來測試產(chǎn)品性能才能通過質(zhì)檢部門的產(chǎn)品檢驗(yàn)。

電子電工產(chǎn)品需要做哪些環(huán)境試驗(yàn)?zāi)?？以下就讓無錫四聯(lián)科技的小編來給你介紹一下吧。環(huán)境試驗(yàn)有：溫度試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、太陽輻射試驗(yàn)、水試驗(yàn)、防塵試驗(yàn)、高低溫低氣壓試驗(yàn)、穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)、低溫、低氣壓/濕熱綜合試驗(yàn)、溫度/振動(dòng)綜合試驗(yàn)等，這些試驗(yàn)設(shè)備都是要參照以下國標(biāo)的要求了進(jìn)行檢驗(yàn)的：

GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫

GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫

GB/T 2423.3-2016電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB/T 2423.4-2016電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法

GB/T 2423.5-2019電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊

GB/T 2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞

GB/T 2423.7-2018電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)

GB/T 2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落

GB/T 2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱

GB/T 2423.10-2019電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)

GB/T 2423.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求

GB/T 2423.12-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fda:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性

GB/T 2423.13-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdb:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)中再現(xiàn)性

GB/T 2423.14-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdc:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)低再現(xiàn)性

GB/T 2423.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度

GB/T 2423.16-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長霉

GB/T 2423.17-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法

GB/T 2423.18-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)--試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)

GB/T 2423.19-2013電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法

GB/T 2423.20-2014電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法

GB/T 2423.21-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法

GB/T 2423.22-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化

GB/T 2423.23-2013電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Q:密封

GB/T 2423.24-2013電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射

GB/T 2423.25-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)

GB/T 2423.26-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗(yàn)

GB/T 2423.27-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法

GB/T 2423.28-2016電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)T:錫焊試驗(yàn)方法

GB/T 2423.29-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度

GB/T 2423.30-2014電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬

GB/T 2423.31-1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)方法

GB/T 2423.32-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法

GB/T 2423.33-2016電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法

GB/T 2423.34-2016電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法

GB/T 2423.35-2019電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法

GB/T 2423.36-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法

GB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)L:砂塵試驗(yàn)方法

GB/T 2423.38-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法

GB/T 2423.39-2018電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ee:彈跳試驗(yàn)方法

GB/T 2423.40-2013電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

GB/T 2423.41-2013電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程風(fēng)壓試驗(yàn)方法

GB/T 2423.42-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)低溫/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法

GB/T 2423.43-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊(Ea)、碰撞(Eb)、振動(dòng)(Fc和Fb)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ca)等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則

GB/T 2423.44-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eg:撞擊彈簧錘

GB/T 2423.45-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序

GB/T 2423.46-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ef：撞擊擺錘

GB/T 2423.47-2018電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fg:聲振

GB/T 2423.48-2018電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ff:振動(dòng)--時(shí)間歷程法

GB/T 2423.49-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fe:振動(dòng)--正弦拍頻法

GB/T 2423.50-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)

51 GB/T 2423.51-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ke:流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)

了解了自己生產(chǎn)的產(chǎn)品需要做哪些環(huán)境試驗(yàn)，這樣您在選擇試驗(yàn)設(shè)備的時(shí)候就有目標(biāo)了，可以有針對性的進(jìn)行一些設(shè)備的選擇，在設(shè)備采購之后也會(huì)很清晰的知道設(shè)備的基本性能參數(shù)的檢定方法的參照標(biāo)準(zhǔn)，設(shè)備到現(xiàn)場安裝調(diào)試后也可以按相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)要求來驗(yàn)收設(shè)備。相信以上理論一定會(huì)對您選購設(shè)備有一定指導(dǎo)作用的。

您在選購環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備時(shí)，還有什么不清楚的地方歡迎咨詢高低溫試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家四聯(lián)公司的專業(yè)人員。